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Noticias de muestreo
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arXiv Computer Science AIPEEK: Corrección de sesgo de exposición con mirada hacia adelante de un paso para muestreo de difusión
Se propone PEEK, un plugin de muestreador determinista sin entrenamiento, para mitigar el sesgo de exposición en generadores de imágenes por difusión. PEEK realiza una actualización provisional de un paso y utiliza una predicción un paso adelante para mejorar la calidad de la imagen al mitigar el sesgo de exposición. Los experimentos mostraron reducciones en la Distancia de Percepción de Fréchet (FID) de hasta un 49.3% en varios modelos.
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